LED寿命与老化测试-解决方案-创惠仪器

一、LED老化试验（SMD）

LED老化试验仪针各种贴片LED的进行多路老化试验，且每路具有独立恒流源。仪器具有三种老化方式，在恒流和冲击老化方式下显示正向电流的电流值、频率或占空比；在开关老化方式下，显示开关次数。并对老化时间进行显示记录。

系统组成

CHL-120 LED老化试验仪，LED老化试验仪专用夹具，LED老化试验仪专用软件，PC机组成。

CHL-120老化.jpg

二、LED加速老化试验仪

加速老化试验仪专门针对LED老化试验。电流、频率、占空比、老化时间均智能可调，配备6组独立恒流电源对60个不同工位LED进行单独供电。相关测试参数可根据用户需要自由设定。从而实现LED额定要求条件下的常规老化试验和过载冲击条件下的加速老化试验。仪器具有可靠性好、调节方便、寿命长等优点，是LED老化试验的首先产品。

系统组成

CHL-600 加速老化试验仪，CHL-600 加速老化试验仪专用测试夹具，加速老化试验仪专用软件，PC机等组成。

CHL-600LED老化.jpg

三、LED灯具加速老化和寿命测试系统

LED灯具加速老化和寿命测试系统主要用于LED模组或LED灯具的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、温度特性试验、寿命试验、颜色偏移测试，并具备LED模块或灯具寿命推算及预估功能。系统主要参考IES LM-80-08标准及IES TM-21-11标准设计。安装在上位机内的 LTS-3000 灯具加速老化和寿命测试系统软件可通过RS232或RS485串行通讯接口程序控制本系统，控制过程中可逐个点亮或全部点亮被测光源，本系统最多可控制16个被测光源，上位机逐个点亮被测光源时，可通过WT105 数字电参数测量仪、CHL-3 LED光色快速测试仪、TMP-X 多路温度巡检仪将被点亮的LED灯具的光、色、电、温度（灯具壳温）特性参数通过相同的串行通讯接口传回上位机。再由上位机内的LTS-3000 灯具加速老化和寿命测试系统软件分析各个被测LED灯具的光通维持特性、温度特性、寿命特性、颜色偏移等，再根据IES TM-21-11推算。

系统组成

由 LTS-3000 灯具加速老化和寿命测试系统软件、WT105 数字电参数测量仪、CHL- 3 LED光色快速测试仪、CHP-XXX交流变频测试稳压电源、TMP-X 多路温度巡检仪、高低温试验箱、CHCP-18 多路供电控制系统、19英寸标准机柜、MCB-III多路通讯集成器组成。

LTS3000老化与寿命.jpg

详细资料请联系销售部

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